光(guang)伏EL/PL測試(shi)方案應(ying)用(yong)場(chang)景以(yi)及(ji)測試(shi)效果
應(ying)用(yong)場(chang)景
組(zu)件/組(zu)串(chuan)EL&PL測試(shi)儀(yi)—應(ying)用(yong)場(chang)景
☆ 組(zu)件旁路二(er)極管問題非常普(pu)遍
☆ IV曲線(xian)測試(shi)儀(yi)不(bu)易測試(shi)出(chu)，但EL測試(shi)儀(yi)非常容(rong)易
可用於(yu)光(guang)伏組(zu)件從生(sheng)產(chan)到安(an)裝，運維(wei)，投(tou)保，交易(yi)等(deng)各(ge)個(ge)環(huan)節(jie)，及早發現問題,避(bi)免更(geng)多損失(shi)。
☆ 光(guang)伏電站晚上(shang)EL檢測時(shi)間短效率(lv)低(di)，白天EL&PL測試(shi)儀(yi)可以(yi)解(jie)決(jue)
☆ 大型集(ji)中式(shi)光(guang)伏電站全檢(jian)需要(yao)高(gao)效率(lv)的測試(shi)設備(bei)，24小(xiao)時(shi)EL&PL測試(shi)儀(yi)可以(yi)實(shi)現。建議(yi)壹(yi)臺全(quan)天候(hou)EL搭配(pei)多臺夜用EL和多臺日(ri)用(yong)PL，後(hou)續(xu)按(an)需求進(jin)行(xing)升級(ji)擴(kuo)展到全天候EL&PL。
全(quan)天候(hou)EL測試(shi)儀(yi)Daysy EL——測試(shi)效果
PID問題光(guang)伏組(zu)件EL圖片
高(gao)爾夫(fu)球(qiu)場附近的光(guang)伏組(zu)件EL圖片
光(guang)伏組(zu)件的不(bu)正確(que)清(qing)洗(xi)造(zao)成(cheng)的(de)問題
全(quan)天(tian)候EL測試(shi)儀(yi)Daysy EL——投(tou)資分析
示(shi)範(fan)效應(ying)
國(guo)內(nei)光(guang)伏EL檢(jian)測領域為數(shu)不(bu)多的1500V全(quan)天候(hou)EL&PL測試(shi)系統(tong)
節(jie)約時(shi)間
通(tong)過(guo)高(gao)效的(de)檢測縮(suo)短EL測試(shi)周(zhou)期，節(jie)省(sheng)時(shi)間成(cheng)本(ben)。
降(jiang)低(di)人工(gong)成(cheng)本(ben)
通(tong)過(guo)提(ti)升檢(jian)測速(su)度縮(suo)短工作時(shi)間，降(jiang)低(di)人力資(zi)源(yuan)成(cheng)本(ben)。
保(bao)障(zhang)電站效率(lv)
EL全檢變得(de)可行，提(ti)升光(guang)伏電站運維(wei)管理水平，確(que)保整(zheng)個(ge)光(guang)伏電站發電效率(lv)處(chu)於(yu)高(gao)水平。
