光伏(fu)組(zu)件/組(zu)串(chuan)EL-PL測試(shi)儀(yi)原(yuan)理(li)

光伏(fu)組(zu)件/組(zu)串(chuan)EL-PL測試(shi)儀(yi)原(yuan)理(li)分(fen)析：

光(guang)伏(fu)組(zu)件/組(zu)串(chuan)EL測試(shi)儀(yi)——測(ce)試原理(li)

☆ EL全稱(cheng)為(wei)Electroluminescence，中文(wen)翻(fan)譯(yi)為(wei)電致(zhi)發光。

☆ 其原理(li)是給(gei)光(guang)伏(fu)組(zu)件/組(zu)串(chuan)施加(jia)正向(xiang)偏(pian)壓，組件(jian)內部(bu)電子在(zai)價(jia)帶與(yu)導帶間(jian)躍遷導(dao)致(zhi)發光，被EL相(xiang)機(ji)采集(ji)並轉(zhuan)換成(cheng)圖像。

☆ 傳(chuan)統(tong)的EL測(ce)試(shi)儀(yi)需(xu)要在(zai)晚(wan)上(shang)或無(wu)光(guang)的環(huan)境中測試，壹般(ban)由普通(tong)相(xiang)機(ji)加(jia)濾(lv)光(guang)片(pian)改造(zao)而成(cheng)。

夜(ye)用(yong)EL測(ce)試儀NightSy EL——測試原(yuan)理(li)

NightSy EL采用(yong)高精度(du) NIR CCD相(xiang)機(ji)，配(pei)合Daysy-Box脈(mai)沖鎖相技(ji)術(shu)，相(xiang)比壹般(ban)夜(ye)用EL可(ke)獲(huo)得(de)更(geng)清晰的成(cheng)像，更容(rong)易發現組件缺陷

白(bai)天(tian)EL測(ce)試(shi)儀(yi)DaySy EL——測試原理(li)

DaySy-EL采用(yong)了(le)InGaAs SWIR相(xiang)機(ji)，相比CCD相機(ji)，其在(zai)光(guang)伏(fu)電池(chi)激(ji)發的光(guang)譜(pu)範(fan)圍(wei)更(geng)靈敏，對太陽(yang)光(guang)譜(pu)不(bu)敏感，配(pei)合先(xian)進的濾(lv)波(bo)及(ji)鎖相技(ji)術(shu)，可(ke)以24小時對(dui)EL進(jin)行(xing)測試，是目(mu)前市場(chang)上(shang)已(yi)知(zhi)的W壹可(ke)以實現全(quan)天EL測(ce)試(shi)的設(she)備。

白(bai)天(tian)EL測(ce)試(shi)儀(yi)DaySy EL——測試原理(li)

Daysy-EL測試(shi)系統(tong)主要(yao)由電源(yuan)、Daysy-Box，銦(yin)鎵(jia)砷(shen)相機(ji)，圖像處理(li)系統(tong)等構(gou)成(cheng)。

組(zu)件(jian)/組(zu)串(chuan)PL測試(shi)儀(yi)Daysy PL——測(ce)試原理(li)

Daysy PL測試(shi)儀(yi)通(tong)過光致(zhi)發光原理(li)，‌使(shi)用(yong)太陽(yang)光(guang)對(dui)組(zu)件激發，‌使(shi)得(de)材料中的電子從(cong)基(ji)態躍遷到(dao)激發態，‌然(ran)後(hou)在(zai)回(hui)到基(ji)態時發出熒光(guang)。‌通過(guo)InGaAs SWIR相(xiang)機(ji)捕捉(zhuo)熒光(guang)信號，‌進而獲得(de)組(zu)件(jian)缺陷信息(xi)。

EL圖像 v.s. PL圖像